Електронски делови : SN54BCT8374AFK

Производјач : Texas Instruments

Паковање :

Игле :

Опис : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

Температура : Најнижа °C | Највиша °C

Datasheet : SN54BCT8374AFK PDF

• SN54BCT8373A
• SN54BCT8373AFK
• SN54BCT8373AJT
• SN54BCT8374A
• SN54BCT8374AFK
• SN54BCT8374AJT
• SN54BCT8374A_08